雷達物位計選型，需綜合考慮介質的介電常數、料倉高度、物料形態及穩定性等方面的因素，從而選擇確定物位計工作方式、微波頻率、波束角以及天線型式。
1、介電常數
由于電磁波的衰減系數與介質的介電常數的平方根成反比，因此，被測介質的介電常數越大，電磁波的衰減越少，物位計接受到的反射信號也就越強，即測量可以得到更好的保證。以JKRD系列雷達物位計為例，表1顯示，同型號雷達， 對于低介電常數介質，其測量的量程范圍明顯縮小。特別針對A類介質，普通的安裝方式甚至不能滿足測量要求。
2、物料形態及穩定性
當物料為固體或粉末狀態時，由于折射、漫散射等影響，使有效的回波減少，雜波增加。同樣，當測量波動表面時，也存在有效回波檢測困難的情況。
3、措施
不論是介電常數還是物料形態穩定性的問題，通過雷達的檢測原理即可確定，要保證測量的可靠性，必需減少信號衰減，增加有效回波數量。根據電磁波的特性，當波束角確定時，電磁波的頻率越高，在單位面積上積聚的能量越大，電磁波的衰減越小，從而雷達物位計的測量精度也就越高。在實際運用中，脈沖式雷達物位計采用的電磁波段主要為C段（低頻）和K段（高頻）兩種，兩者主要性能對比如表2。通常，波束角的大小與天線的尺寸成反比，天線越大，波束角越小，相同頻率的波在單位面積上聚集的能量也就越大。針對固體、粉末類介質，且儲罐條件比較復雜的場合，在選擇高頻雷達的同時，應采用大尺寸天線（例如拋物面天線）以提高測量精度。
由于外界雜波的干擾對普通非接觸式雷達的信號判斷及處理能力提出很高的要求，采用導波雷達或者增加導波管（液體測量）的方式較好地解決了微波傳輸穩定性的問題。除此之外，因電磁波的回波時間不因介電常數的變化而變化，僅為信號強度有差，所以導波式測量是低介電常數介質物位測量的優選方式。
連續調頻式雷達物位計，因其獨特的信號分析處理技術，具有高靈敏度、良好的穩定性和信號自動校準等優點，被視為是復雜條件物位測量的優選方案，特別適用于極度粉塵并伴有高溫場合以及超低介電常數介質的物位測量。精度可達±0.5mm，測量范圍可達100m。由于采用調頻連續波技術，物位計功耗較大（5~10W），為常規脈沖式雷達物位計的10倍左右，常規采用220VAC四線制接線方式。但隨著技術的發展，現已有應用良好的24VDC兩線制產品，例如JKRD系列雷達物位計等。
